PTR-TOF飞行时间二次离子质谱仪Kore SurfaceSeer I

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PTR-TOF飞行时间二次离子质谱仪Kore SurfaceSeer I

SurfaceSeer I系列产品是Kore（雪迪龙控股子公司）公司研发生产的高灵敏度的TOF-SIMS，用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。是表面化学研究、研发与工业质量控制等方面的理想选择。

表面涂层和处理
电子元件和半导体
电极与传感器
润滑剂
催化剂
粘合剂
薄膜等包装材料
腐蚀研究
大学教学与科研

配备25KV液态金属离子枪（LMIG），检测能力更强，质量分辨率更高；

具备表面成像和深度剖析功能；

高度稳定可调的样品台（X、Y、Z轴），满足不同厚度样品分析需求；

SIMS库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；

分析速度快，操作简单方便，通常每个样品的分析时间少于5分钟；

具有高质量分辨率，对未知样品分析能力强，配套的SIMS材料谱库可帮助识别未知物；

专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。